Водопоглощение диэлектрика
количество воды, поглощаемое диэлектриком в водной среде.
отношение плотности потока носителей заряда, рекомбинировавших на поверхности полупроводника, к концентрации избыточных носителей заряда у поверхности.
Предлагается способ измерения объемного времени жизни и скорости поверхностной рекомбинации носителей заряда в полупроводниках на основании исследования спектрального распределения фазового сдвига сигнала фотопроводимости, выделенного при СВЧ смещении относительно гармонически модулированного возбуждающего излучения. Приводится функциональная схема измерительной установки, результаты измерения на образцах кремниевых структур.
Предложены бесконтактные неразрушающие лазерно-интерферометрические методы измерения целого ряда электрофизических параметров полупроводниковых и диэлектрических слоев. Это время жизни носителей заряда, причем раздельно электронов и дырок; параметры центров рекомбинации, а именно их концентрация и сечения захвата; объемное время жизни и скорость поверхностной рекомбинации, а также диффузионная длина носителей заряда. Методы основаны на интерференционно-абсорбционном взаимодействии в полупроводнике двух различающихся по длине волны лазерных излучений. Коротковолновое инжектирующее излучение генерирует в материале дополнительные носители заряда, что приводит к изменению его оптических констант на длине волны другого длинноволнового зондирующего лазерного излучения и к модуляции этого излучения при прохождении им исследуемого образца материала. Разработаны средства реализации предложенных методов и способы обработки модуляционного сигнала для определения параметров исследуемых образцов...
количество воды, поглощаемое диэлектриком в водной среде.
область значений энергии, которыми не могут обладать электроны в кристалле.
дешевый ювелирный и декоративный сплав, содержащий 5% Ag, 5% Сu, Al - ост..