Время задержки при включении импульса излучения полупроводникового излучателя
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
функция, которая в рамках определенного места на дифракционной поверхности выражает степень длины дополнительного оптического эквивалентного пути, образовывающегося при прохождении луча через данное место на поверхности.
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
фотометр для измерения углового распределения световых характеристик среды или поверхности.
прибор для измерения освещенности.
Наведи камеру телефона на QR-код — бот Автор24 откроется на вашем телефоне