дифракционный оптический элемент, формирующий не менее трех дифракционных порядков, при этом усредненный период дифракционной микроструктуры этого оптического элемента много больше толщины рабочего слоя; для двумерного дифракционного оптического элемента с синусоидальным профилем показателя преломления это значение выражается как Q<1.
характеристика, определяемая близостью результатов испытаний идентичных образцов одного и того же объекта по одной и той же методике в разных лабораториях, разными операторами с использованием различного оборудования.
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
прибор для измерения яркости.
Наведи камеру телефона на QR-код — бот Автор24 откроется на вашем телефоне
