Дифракционный максимум
максимум интенсивности рассеянных рентгеновских луче.
дефект упаковки, возникающий в результате удаления одного из закономерно чередующихся в данном кристалле плотноупакованных слоев.
максимум интенсивности рассеянных рентгеновских луче.
индексы отражающей плоскости n -порядка.
микроскоп, в котором изображениe поверхности формируется с помощью Оже-электронов.
Наведи камеру телефона на QR-код — бот Автор24 откроется на вашем телефоне