Справочник от Автор24
Найди эксперта для помощи в учебе
Найти эксперта
+2

Спектральное сканирование

Предмет Приборостроение и оптотехника
👍 Проверено Автор24

последовательное изменение во времени длины волны настройки оптического спектрального прибора.

Научные статьи на тему «Спектральное сканирование»

Лучевые исследования сосудов

Допплерография (спектральный допплер, УЗДГ). Относится к методам допплеровского сканирования....
Но постоянно-волновой режим сканирования не дает возможности дифференцировать сигнал по глубине....
Особенностью работы в импульсном режиме допплеровского сканирования является ограничение во времени длительности...
Однако, этот метод сканирования не дает возможности измерить большие скорости на больших глубинах (как...
Также относится к методам допплеровского сканирования.

Статья от экспертов

Метод распознавания объектов по данным лазерного сканирования на основе спектральной теории графов

Предлагается метод распознавания объектов по данным лазерного сканирования. Эти данные можно получить сканированием объектов специальным прибором LIDAR (LIght Detection And Ranging) в виде облака точек, которое представляет собой неупорядоченный набор точек с координатами трехмерного пространства. Решение многих задач компьютерного зрения и распознавания c использованием данных лазерного сканирования зачастую эффективней, чем с использованием двумерных данных по нескольким причинам. Во-первых, третья координата повышает информативность и способствует более подробному описанию объекта. Во-вторых, качество облака точек не зависит от погодных условий, при которых проводилось лазерное сканирование. В-третьих, облако точек позволяет сохранить масштабы объектов. Современные приборы LIDAR позволяют получить данные высокой детализации с большим количеством точек. Однако использование всех точек для распознавания объектов может привести к большим вычислительным затратам. Кроме того данные мо...

Научный журнал

Метод спектральной эллипсометрии при элементно-градиентном сканировании поверхности монокристаллического кремния с эпитаксиальным слоем железа

При исследовании методом спектральной эллипсометрии подложки Si(100) с пленкой Fe, было обнаружено, что для данной системы нельзя применять стандартную оптическую модель тонких однородных пленок с резкими границами раздела. Показана целесообразность разработки алгоритма для градиентного сканирования поверхности объекта исследования и реализации данного алгоритма в программном пакете.

Научный журнал

Еще термины по предмету «Приборостроение и оптотехника»

Смотреть больше терминов

Повышай знания с онлайн-тренажером от Автор24!

  1. Напиши термин
  2. Выбери определение из предложенных или загрузи свое
  3. Тренажер от Автор24 поможет тебе выучить термины с помощью удобных и приятных карточек
Все самое важное и интересное в Telegram

Все сервисы Справочника в твоем телефоне! Просто напиши Боту, что ты ищешь и он быстро найдет нужную статью, лекцию или пособие для тебя!

Перейти в Telegram Bot