Атомно-абсорбционно-эмиссионный спектрометр
оптический спектрометр, предназначенный для измерений и регистрации спектрального коэффициента пропускания и (или) спектральной интенсивности оптического излучения атомного пара.
Спектральное сканирование
Предмет
Приборостроение и оптотехника
👍 Проверено
Автор24
последовательное изменение во времени длины волны настройки оптического спектрального прибора.
Научные статьи на тему «Спектральное сканирование»
Лучевые исследования сосудов
Допплерография (спектральный допплер, УЗДГ). Относится к методам допплеровского сканирования....
Но постоянно-волновой режим сканирования не дает возможности дифференцировать сигнал по глубине....
Особенностью работы в импульсном режиме допплеровского сканирования является ограничение во времени длительности...
Однако, этот метод сканирования не дает возможности измерить большие скорости на больших глубинах (как...
Также относится к методам допплеровского сканирования.
Статья от экспертов
Метод распознавания объектов по данным лазерного сканирования на основе спектральной теории графов
Предлагается метод распознавания объектов по данным лазерного сканирования. Эти данные можно получить сканированием объектов специальным прибором LIDAR (LIght Detection And Ranging) в виде облака точек, которое представляет собой неупорядоченный набор точек с координатами трехмерного пространства. Решение многих задач компьютерного зрения и распознавания c использованием данных лазерного сканирования зачастую эффективней, чем с использованием двумерных данных по нескольким причинам. Во-первых, третья координата повышает информативность и способствует более подробному описанию объекта. Во-вторых, качество облака точек не зависит от погодных условий, при которых проводилось лазерное сканирование. В-третьих, облако точек позволяет сохранить масштабы объектов. Современные приборы LIDAR позволяют получить данные высокой детализации с большим количеством точек. Однако использование всех точек для распознавания объектов может привести к большим вычислительным затратам. Кроме того данные мо...
Creative Commons
Научный журнал
Метод спектральной эллипсометрии при элементно-градиентном сканировании поверхности монокристаллического кремния с эпитаксиальным слоем железа
При исследовании методом спектральной эллипсометрии подложки Si(100) с пленкой Fe, было обнаружено, что для данной системы нельзя применять стандартную оптическую модель тонких однородных пленок с резкими границами раздела. Показана целесообразность разработки алгоритма для градиентного сканирования поверхности объекта исследования и реализации данного алгоритма в программном пакете.
Creative Commons
Научный журнал
Еще термины по предмету «Приборостроение и оптотехника»
Время восстановления СВЧ защитного устройства
интервал времени, отсчитываемый от момента окончания СВЧ импульса до момента, когда потери, дополнительные к потерям пропускания, достигнут в СВЧ защитном устройстве заданного уровня; обычно задается уровень, равный 3 дБ.
Время спада импульса излучения полупроводникового излучателя
интервал времени, в течение которого сила излучения полупроводникового излучателя изменяется от 90 до 10 % своего максимального значения.
- Скважность спектрального сканирования
- Шаг спектрального сканирования
- Сканирование
- Сканирование (scanning)
- Сканирование одновременное
- Сканирование последовательное
- Инфракрасное сканирование образов
- Оптический ввод, сканирование
- Испытание методом сканирования
- Спектральная ширина спектральной щели
- Спектральная дисперсия
- Спектральная призма
- Спектральная щель
- Спектральное пропускание
- Спектральный интервал
- Класс спектральный
- Спектральный анализ
- Спектральная погрешность оптического спектрального прибора
- Спектральная селективность оптического спектрального прибора
- Эффективная спектральная ширина спектральной щели
Повышай знания с онлайн-тренажером от Автор24!
- Напиши термин
- Выбери определение из предложенных или загрузи свое
- Тренажер от Автор24 поможет тебе выучить термины с помощью удобных и приятных карточек
