Представлены основные контуры процедуры определения размеров, структурных параметров и процентного содержания нанографитов в их порошках путем полнопрофильной аппроксимации дифрактограммы образца с помощью набора профилей рентгеновской дифракции порошков модельных нанографитов. Показано, что использование модельных нанографитов с учетом радиальной зависимости межатомных расстояний в слое и зависимости межплоскостного расстояния от количества атомов в слое позволяет описать дифрактограмму порошка нанографитов в широком угловом диапазоне, включая так называемый малоугловой γ-пик без предположений о наличии в нем других структур.
деформация характеризуется смещением атомов относительно друг друга на величину, которая меньше, чем межатомные... расстояния.... При пластической деформации атомы смещаются на расстояние, большее, чем межатомныерасстояния и после
С использованием метода нормированного размаха проанализированы пространственные данные на основе молекулярных гистограмм межатомных расстояний для 25 органических гомологов. Установлено, что все исследованные пространственные ряды имеют положительную корреляцию между предшествующими и последующими членами ряда. Для объяснения изменения средних величин параметра Херста между различными гомологическими рядами предложена простая линейная модель.
интервал времени от нанесения клея до соединения склеиваемых поверхностей в условиях окружающей среды; время открытой выдержки необходимо для удаления растворителя из полимерного клеевого слоя, заполнения клеем неровностей и пор, вытеснения из них воздуха и образования на склеиваемой поверхности слоя клея равномерной толщины.