Время задержки при включении импульса излучения полупроводникового излучателя
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
отношение числа дефектных единиц продукции к общему числу единиц продукции в партии или потоке продукции..
изделиями удельный вес (долю) в выборке....
Первый способ предполагает определение процента дефектных единиц....
Для этого число выявленных дефектных единиц (т. е. единиц с дефектами) делят на число проверяемых единиц...
Второй способ предполагает определение числа дефектов на 100 единиц продукции....
, будет принято, если средняя доля дефектности этих партий не будет больше, чем установленный заранее
Если продукция имеет хотя бы один дефект, то она считается дефектной....
единиц продукции....
арифметических значений;
карта медиан;
карта средних квадратических отклонений;
карта размахов;
карта доли...
дефектных единиц продукции;
карта общего количества дефектных единиц продукции;
карта общего количества...
дефектов;
карта количества дефектов в расчете на единицу продукции.
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
фотометр для измерения углового распределения световых характеристик среды или поверхности.
прибор для измерения яркости.
Наведи камеру телефона на QR-код — бот Автор24 откроется на вашем телефоне