Захват носителя заряда полупроводника
исчезновение электрона проводимости или дырки проводимости в результате перехода на локальный уровень дефекта решетки полупроводника.
закалка (упрочнение), происходящая в результате нагрева металла (изделия) непрерывным или импульсным лазерным лучом.
исчезновение электрона проводимости или дырки проводимости в результате перехода на локальный уровень дефекта решетки полупроводника.
прибор для проведения Оже-спектроскопии.
материал, изготовленный из металлического порошка или из его смеси с неметаллическим порошком.