Захват носителя заряда полупроводника
исчезновение электрона проводимости или дырки проводимости в результате перехода на локальный уровень дефекта решетки полупроводника.
интервал времени, в течение которого устанавливается стабилизированный заряд электрета.
исчезновение электрона проводимости или дырки проводимости в результате перехода на локальный уровень дефекта решетки полупроводника.
прибор для проведения Оже-спектроскопии.
образованиe на поверхности металла (изделия) продукта газовой коррозии - окалины.