Время спада импульса излучения полупроводникового излучателя
интервал времени, в течение которого сила излучения полупроводникового излучателя изменяется от 90 до 10 % своего максимального значения.
оптический элемент, входящий в конструкцию корпуса ФЭПП и пропускающий излучение к ФЧЭ.
интервал времени, в течение которого сила излучения полупроводникового излучателя изменяется от 90 до 10 % своего максимального значения.
рефрактометр, применяемый при геодезических измерениях.
фотометр для измерения углового распределения световых характеристик среды или поверхности.