Глубина обратной связи
степень относительных изменений параметров усилительного тракта, вызываемых введением в него обратной связи.
четыре (или пять) специально выделенных для тестирования по интерфейсу JTAG вывода БИС/СБИС.
степень относительных изменений параметров усилительного тракта, вызываемых введением в него обратной связи.
секция, находящаяся в процессе коммутации.
контакт-деталь, жестко или упруго связанная с неподвижной частью устройства.