Атомно-абсорбционный спектрометр
оптический спектрометр, предназначенный для измерений и регистрации спектрального коэффициента пропускания и (или) спектральной оптической плотности атомных паров.
матрица микролинз с регулярной или случайной геометрией расположения микролинз, предназначенная для преобразования падающего волнового фронта.
оптический спектрометр, предназначенный для измерений и регистрации спектрального коэффициента пропускания и (или) спектральной оптической плотности атомных паров.
интервал времени, в течение которого сила излучения полупроводникового излучателя изменяется от 90 до 10 % своего максимального значения.
составляющая шума прибора СВЧ, вызванная тепловым движением носителей заряда.