Геометрическая ось полупроводникового излучателя
воображаемая линия, по отношению к которой отцентрирован корпус полупроводникового излучателя.
внеосевая голограмма (двухмерная или трехмерная), запись дифракционной структуры которой осуществляется по внеосевой аналоговой голографической схеме; восстановление объектной волны осуществляется в лазерном излучении.
Экспериментально исследуется метод цифровой голографической интерферометрии для дефектоскопии заготовок (преформ) оптического волокна. Дефектоскопия материалов производства волоконных световодов играет важную роль. В данной статье рассматривается процесс цифровой голографической съемки и обработки изображений голограмм. На основе оптической схемы Лейта-Упатниекса разработана схема голографического интерферометра, в котором запись голограммы производится непосредственно на ПЗС матрицу. Проведена серия экспериментов по голографической интерферометрии дефектоскопии заготовок оптического волокна. Голографическая интерферометрия позволяет записывать объекты в разных состояниях. На основании экспериментальных данных изучены возможности метода и обоснована возможность его применения, описаны его преимущества перед другими анализаторами преформ оптических волокон.
воображаемая линия, по отношению к которой отцентрирован корпус полупроводникового излучателя.
теодолит с гирокомпасом.
прибор для измерения освещенности.
Наведи камеру телефона на QR-код — бот Автор24 откроется на вашем телефоне