Линейная скорость роста
скорость увеличения линейного размера кристалла.
картина дифракции электронов, полученная при съемке на отражение.
Изучена морфология плоскостей роста пленок теллурида кадмия синтезированных на нагретой подложке (равновесные условия), которая соответствует классической теории зародышеобразования. Представлены электронограммы на отражение пленок различной структуры: от поликристаллической до состоящей из монокристаллических блоков.
скорость увеличения линейного размера кристалла.
магнитный материал с коэрцитивной силой по индукции не более 4 кА/м.
полимер, полученный из двух или более видов мономера.
Наведи камеру телефона на QR-код — бот Автор24 откроется на вашем телефоне