Зона проводимости полупроводника
свободная зона полупроводника, на уровнях которой при возбуждении могут находиться электроны проводимости.
изображение структуры, получаемое с помощью сфокусированного пучка электронов.
Наиболее распространенным является оптический микроскоп, который использует свет для получения изображения...
является оптический микроскоп....
Электронный микроскоп
С помощью современных электронных микроскопов можно увеличить объект до $2$ миллионов...
Это возможно, так как длина волны электронов высокой энергии очень мала....
Из-за малой длины волны, разрешение изображения выше, чем в оптических микроскопах.
Предложен метод определения структуры и оценки параметров оптико-электронного тракта (ОЭТ). В основу метода положен анализ перепада яркости на границах изображений объектов, используемый для получения реализации сечения амплитудно-частотной характеристики (АЧХ) ОЭТ. Принцип работы метода, позволяющий осуществлять оценку параметров ОЭТ, заключается в минимизации показателя, характеризующего интегральную величину отклонения реализаций сечений АЧХ ОЭТ от математической модели АЧХ, известной с точностью до этих параметров. Экспериментальное исследование иллюстрирует эффективность предложенного метода оценки структуры и параметров ОЭТ и границы его применения.
образов для анализа изображений или отсканированных документов с символами маркировки микросхем....
Процесс обычно включает следующие шаги:
Предварительная обработка изображения....
В этом шаге изображение маркировки микросхемы подвергается обработке для удаления шума, улучшения контраста...
Изображение разбивается на отдельные символы, что позволяет идентифицировать и изолировать каждый символ...
программного обеспечения, которые считывают изображение микросхемы и обрабатывают его, чтобы определить
Всенаправленные оптико-электронные системы находят применение в тех сферах, где критичен большой угол обзора. Однако всенаправленные оптико-электронные системы имеют большую дисторсию, что затрудняет их повсеместное использование. В работе приведено сравнение проекционных функций перспективных объективов и всенаправленных сверхширокоугольных объективов типа «рыбий глаз» с углом обзора не менее 180°, из которого следует, что такие объективы не могут быть описаны с помощью отклонения от перспективной модели. Для решения этой проблемы был предложен алгоритм преобразования изображений, полученных всенаправленными оптическими системами, к классическому перспективному виду с использованием процедуры калибровки всенаправленной оптико-электронной системы. Приведено краткое сравнение четырех методов калибровки всенаправленных оптико-электронных систем, доступных в виде инструментариев с открытым исходным кодом. Приведена геометрическая проекционная модель, используемая для калибровки всенапр...
свободная зона полупроводника, на уровнях которой при возбуждении могут находиться электроны проводимости.
термомеханическая обработка стали, проводимая во время превращения аустенита в перлит.
полимер стирола.
Наведи камеру телефона на QR-код — бот Автор24 откроется на вашем телефоне