Индексы Лауэ
индексы отражающей плоскости n -порядка.
линейный дефект, представляющий собой область упругого искажения кристаллической решетки, связанный с поворотом на определенный угол одной части кристалла относительно другой в ограниченной области и вызывающий изменение взаимного расположения атомов, координационного числа и симметрии совершенного кристалла; характеризуется величиной и направлением разворота кристаллической решетки вектором поворота ω (вектор Франка) .
На основе классической модели Кирхгофа-Лява рассматривается напряженное состояние упругой тонкой оболочки, содержащей как изолированные, так и непрерывно распределенные дислокации и дисклинации. Установлены вариационные принципы и представлены общие теоремы линейной теории оболочек с дислокациями и дисклинациями. Сформулирована проблема бесконечно малых изгибаний поверхности при наличии распределенных дислокаций. Построена нелинейная теория оболочек с непрерывно распределенными дислокациями. В линейной и нелинейной постановках решен ряд задач о сосредоточенных дефектах в замкнутой сферической оболочке.
Рассмотрена нелинейная задача об образовании изолированной дисклинации в оболочках вращения. В рамках мембранной теории оболочек в предположении об отсутствии внешних нагрузок найдены точные решения, описывающие большие деформации, возникающие при образовании дисклинации в сферической, эллипсоидальной, торообразной и ряде других оболочек вращения.
индексы отражающей плоскости n -порядка.
скорость увеличения линейного размера кристалла.
микроскоп, в котором изображениe поверхности формируется с помощью Оже-электронов.
Возможность создать свои термины в разработке
Еще чуть-чуть и ты сможешь писать определения на платформе Автор24. Укажи почту и мы пришлем уведомление с обновлением ☺️
Наведи камеру телефона на QR-код — бот Автор24 откроется на вашем телефоне