Атомно-абсорбционно-эмиссионный спектрометр
оптический спектрометр, предназначенный для измерений и регистрации спектрального коэффициента пропускания и (или) спектральной интенсивности оптического излучения атомного пара.
метод подавления эффекта призрачного изображения и увеличения скорости синтеза модели объектной волны, основанный на удалении из модели трехмерной сцены элементов и объектов, невидимых из плоскости голограммы.
В поверхностном слое (около поверхности жидкости) действуют силы, обеспечивающие существование поверхности...
При этом скрытая теплота парообразования при увеличении температуры уменьшается....
Поверхностное натяжение и скрытая теплота парообразования при критической температуре становятся равными...
Эти силы удерживают частицу на поверхности жидкости (или кристалла)....
Энергия испарения равна работе, которую следует совершить для преодоления сил молекулярного притяжения и удаления
Представлены подходы к управлению технологическими процессами электролитно-плазменной обработки на основе пассивной идентификации свойств поверхностного слоя. Рассмотрена методика статистического спектрального анализа тока электролизера, позволяющая выявлять скрытые закономерности изменения информативных параметров, коррелированные с динамикой состояния поверхности. Представлены способы пассивной идентификации свойств поверхностного слоя при электролитноплазменном полировании и удалении покрытий и способы управления длительностью процесса на их основе.
конструкций инструментов и приспособлений требуемому качеству: универсальность для обработки разных поверхностей...
стабильность формирования стружки, гарантированная стойкость инструмента, 100 % контроль для предупреждения скрытого...
приспособления, предназначенные для проверки качества предыдущей обработки, приспособления, необходимые для удаления
Задачей исследования является компьютерное моделирование комбинации из различных трехмерных объектов. Статья представляет собой иллюстрацию возможностей такого моделирования. В ней рассмотрена разработка и реализация алгоритма аппроксимации объектов, алгоритма удаления скрытых поверхностей и алгоритма их закраски. Результатом является программа, которая может быть использована для моделирования конструкций, состоящих из нескольких объектов. Статья содержит схемы предложенных алгоритмов, примеры результатов их работы и иллюстрацию работы конечной программы
оптический спектрометр, предназначенный для измерений и регистрации спектрального коэффициента пропускания и (или) спектральной интенсивности оптического излучения атомного пара.
интервал времени между входным и выходным импульсами при переходе напряжения на выходе оптоэлектронного переключателя от напряжения высокого уровня к напряжению низкого уровня, измеренный на уровне 0,5 или на заданных значениях напряжения.
интервал времени, в течение которого сила излучения полупроводникового излучателя изменяется от 90 до 10 % своего максимального значения.