Время задержки при включении импульса излучения полупроводникового излучателя
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
вероятность забракования партии продукции, обладающей приемочным уровнем дефектности.
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
фазовая синтезированная голограмма с углом «блеска».
оптический спектральный прибор, предназначенный для визуального наблюдения спектров.
Наведи камеру телефона на QR-код — бот Автор24 откроется на вашем телефоне