Время спада импульса излучения полупроводникового излучателя
интервал времени, в течение которого сила излучения полупроводникового излучателя изменяется от 90 до 10 % своего максимального значения.
отклонение действительного значения параметра производимой продукции от его номинального значения, установленного нормативно-технической документацией.
И для каждого вида сырья и продукции существует свой метод изготовления....
Более 90% изготовляемых деталей проходят на производстве через прокат (рельсы, проволока, листы, трубы...
Стоит отметить, что на всех производствах где были внедрены статические методы наметились значительные...
, ранее обнаруженных на производстве, создать новый устойчивый процесс сборки и обработки деталей....
для устранения погрешностей, если число погрешностей превышает критическое количество, то это означает
В данной статье рассматривается одна из особенностей проектирования технологии механической обработки в CAD/CAM. Проблема состоит в том, что при настройке положения расчетной точки инструмента необходимо учесть как погрешность формирования параметра объекта производства выбранным средством производства, так и погрешность средства технического контроля, используемого при приемке продукции. Для обеспечения желаемой вероятности выхода принятой (годной) продукции при наложенных ограниче ниях на вероятность риска заказчика и неисправимого брака разработана автоматизированная система поддержки технологического проектирования.
Общие сведения о классах точности
Качество продукции и процессов во многом определяется в результате...
Возможно нормирование погрешности....
Удовлетворение этим требованиям должно выполняться как при выпуске измерительных средств из производства...
Это, прежде всего, связано с тем, что для изготовления разной продукции нужны детали с различной точностью...
отношении измерительных средств, которые используются во время проектирования, изготовления и приемки продукции
Приведены сведения о влиянии погрешности измерения на вероятность принятия решения о приемки продукции при статистической нестабильности процесса производства. Показано на примере производства кирпича, что вероятность ошибки первого рода возрастает при снижении воспроизводимости процесса производства.
интервал времени, в течение которого сила излучения полупроводникового излучателя изменяется от 90 до 10 % своего максимального значения.
необратимая тонкослойная регистрирующая среда, содержащая светочувствительные наночастицы галогенидов серебра в желатиновой матрице.
фазовая синтезированная голограмма с углом «блеска».
Возможность создать свои термины в разработке
Еще чуть-чуть и ты сможешь писать определения на платформе Автор24. Укажи почту и мы пришлем уведомление с обновлением ☺️
Включи камеру на своем телефоне и наведи на Qr-код.
Кампус Хаб бот откроется на устройстве