Детерминированные помехи
наводки от импульсных напряжений на электродах и геометрический шум.
интегральная микросхема, все элементы и межэлементные соединения которой выполнены в виде пленок; частными случаями пленочных интегральных микросхем являются тонкопленочные и толстопленочные ИМС.
Известно, что образование интерметаллических соединений (ИМС) является одним из основных мешающих факторов при проведении инверсионно-вольтамперометрических (ИВА) измерений. Наиболее существенно влияние ИМС на аналитические сигналы проявляется в системе медь-цинк при их определении на ртутно-графитовом пленочном электроде. Изучению возможности устранения мешающего влияния ИМС в системах Cu-Cd и Cu-Zn посвящено значительное количество работ.
наводки от импульсных напряжений на электродах и геометрический шум.
то же, что положительный сигнал.
ветвь графа, не принадлежащая дереву графа.