Периферийное сканирование (Boundary Scan Testing)

Особенности использования стандартов в задачах тестирования

Рассматриваются актуальные проблемы диагностирования цифровых устройств на всех этапах проектирования, включая выбор общей структуры проекта, функциональную верификацию, программирование кристалла, формирование конфигурации, временную проверку отдельных блоков проекта и аппаратное тестирование. Проведены исследования в части развития стандартов периферийного сканирования и их приложений для различных проектов за последнее время. Представлены различные современные стандарты в маршруте автоматического проектирования, цифровой стандарт периферийного сканирования для тестирования многослойных печатных плат, стандарт для сокращения затрат на тестирование СБИС с дальнейшей возможностью повторного использования для других задач и инструменты для периферийного сканирования, позволяющие производить структурное тестирование и тестопригодное проектирование. Рассмотрены стандарты, обеспечивающие внутрисхемное конфигурирование интегральных микросхем, и их связь с устранением неисправностей прото...