Время задержки при включении импульса излучения полупроводникового излучателя
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
плоский ЭОП с микроканальной пластиной, люминесцентный экран которого нанесен или состыкован с оборачивающей волоконно-оптической пластиной.
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
регистрирующий прибор для измерения зависимости диаметра зрачка от времени.
математическое ожидание длины серии выборок.