Время спада импульса излучения полупроводникового излучателя
интервал времени, в течение которого сила излучения полупроводникового излучателя изменяется от 90 до 10 % своего максимального значения.
изделие, процесс, явление, математическая модель, находящиеся в определенном соответствии с объектом испытаний и (или) воздействиями на него и способные замещать их в процессе испытаний.
средств вычислительной техники, который предназначен для выполнения научно-исследовательских работ или испытания...
Сократить сроки, уменьшить трудоёмкость научных исследований и комплексных испытаний новых технических...
Применение методик переработки и отображения итоговых результатов научных исследований и испытаний в...
форме математических моделей, которые имеют заданный формат....
Подмена натурных испытаний и макетов математическими моделями.
Статья посвящена исследованию деформационных характеристик винтовых и набивных свай. Представлены порядок изготовления моделей свай и подготовка испытательного стенда. Даны результаты лотковых экспериментов, выполненных в лаборатории.
способы регистрации, описания и анализа данных наблюдений и экспериментов для построения вероятностных моделей...
Методики оценивания и проверки гипотез базируются на вероятностных моделях происхождения информационных...
Такие модели подразделяются на параметрические и непараметрические....
В параметрических моделях выдвигается предположение, что характеристики исследуемых объектов могут быть...
Непараметрические модели не привязаны к спецификации параметрического семейства для распределения исследуемых
интервал времени, в течение которого сила излучения полупроводникового излучателя изменяется от 90 до 10 % своего максимального значения.
семиэлектродная электронно-управляемая лампа, имеющая анод, катод, управляющий электрод и четыре дополнительных электрода.
фазовая синтезированная голограмма с углом «блеска».