Время задержки при включении импульса излучения полупроводникового излучателя
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
изделие, процесс, явление, математическая модель, находящиеся в определенном соответствии с объектом испытаний и (или) воздействиями на него и способные замещать их в процессе испытаний.
средств вычислительной техники, который предназначен для выполнения научно-исследовательских работ или испытания...
Сократить сроки, уменьшить трудоёмкость научных исследований и комплексных испытаний новых технических...
Применение методик переработки и отображения итоговых результатов научных исследований и испытаний в...
форме математических моделей, которые имеют заданный формат....
Подмена натурных испытаний и макетов математическими моделями.
Статья посвящена исследованию деформационных характеристик винтовых и набивных свай. Представлены порядок изготовления моделей свай и подготовка испытательного стенда. Даны результаты лотковых экспериментов, выполненных в лаборатории.
способы регистрации, описания и анализа данных наблюдений и экспериментов для построения вероятностных моделей...
Методики оценивания и проверки гипотез базируются на вероятностных моделях происхождения информационных...
Такие модели подразделяются на параметрические и непараметрические....
В параметрических моделях выдвигается предположение, что характеристики исследуемых объектов могут быть...
Непараметрические модели не привязаны к спецификации параметрического семейства для распределения исследуемых
Приведены предварительные результаты испытаний моделей якорей для плавучих навигационных знаков: сегментного и якоря А. Саханского. Якорь А. Саханского испытан в двух вариантах с клапаном и без клапана. Намечены направления дальнейших исследований.
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
геодезический прибор для определения длин линий без непосредственного откладывания мер длины вдоль измеряемых линий.
составляющая шума прибора СВЧ, вызванная тепловым движением носителей заряда.