Захват носителя заряда полупроводника
исчезновение электрона проводимости или дырки проводимости в результате перехода на локальный уровень дефекта решетки полупроводника.
коррозия вблизи ватерлинии - вдоль границы газ -жидкость, вызванная наличием этой границы.
В статье рассмотрены основные закономерности протекания коррозии по линии водораздела (ватерлиния) в зоне брызг и связь этого процесса с потенциалом погружения (потенциал Биллитера). Предложена электрохимическая модель коррозионного процесса по ватерлинии, позволяющая объяснить вид экспериментально наблюдаемой коррозионной кривой. Повышенное внимание уделено оценке скорости коррозии по ватерлинии в зоне брызг энергетического оборудования.I
Рассмотрена термодинамическая и кинетическая трактовка возникновения и постоянства потенциала погружения. Дана оценка влияния потенциала погружения на скорость коррозионных процессов. Повышенное внимание уделено влиянию емкости двойного электрического слоя на скорость коррозии по ватерлинии в зоне брызг энергетического оборудования.I
исчезновение электрона проводимости или дырки проводимости в результате перехода на локальный уровень дефекта решетки полупроводника.
пластмасса с использованием полимеров, в которых повторяющиеся структурные звенья в цепях относятся к эфирному типу и также присутствуют другие типы повторяющихся структурных звеньев, причем сложноэфирный компонент или компоненты представлены в наибольшем количестве.
диэлектрик, содержащий электрические диполи, способные к переориентации во внешнем электрическом поле.