Внеосевая цифровая голограмма
цифровая голограмма, полученная во внеосевой схеме.
Исследовательские испытания
Предмет
Приборостроение и оптотехника
👍 Проверено
Автор24
испытания, проводимые для изучения определенных характеристик свойств объекта.
Научные статьи на тему «Исследовательские испытания»
Виды испытаний и контроля
Виды испытаний
Классификация испытаний продукции может осуществляться на основе следующих критериев:...
сущность испытания: исследовательские, определительные, сравнительные, контрольные испытания;
уровень...
, аттестационные испытания;
условия и место проведения испытания: натурные, лабораторные, полигонные,...
Так, исследовательские испытания проводятся для более детального изучения (т. е. исследования) характеристик...
свойств объекта испытаний.
Статья от экспертов
Исследовательские испытания интегральных микросхем
В статье приводится информация о назначении и программе исследовательских испытаний микросхем, указывается связь обучающего эксперимента и исследовательских испытаний. Приведены важнейшие этапы методики обучающего эксперимента. Отмечены задачи каждого этапа методики. Указаны важнейшие дестабилизирующие факторы, влияющие на функционирование микросхем. На примере выборки микросхем 765ЛН2-1 ОС показано применение программы испытаний, определены режимы испытаний, выявлены наиболее информативные параметры. Приводятся структурные схемы измерения наиболее информативных параметров. Получены математические модели индивидуального прогнозирования для исследуемой выборки на основе полученных результатов испытаний.
Creative Commons
Научный журнал
Классификация испытаний товаров
является ее испытание....
результатов этого испытания....
проведения испытания - различают исследовательские и контрольные испытания;
уровень проведения испытания...
испытания - различают разрушающие и неразрушающие испытания....
Описание разновидностей испытаний продукции
Целью проведения исследовательских испытаний является изучения
Статья от экспертов
Исследовательские испытания светодиодных источников света
Представлены результаты исследовательских испытаний светодиодных ламп на надежность. Выявлены наиболее критические причины, влияющие на снижение светового потока светодиодных источников света. Рассмотрены основные типы и причины отказов элементов электромеханической системы светодиодных ламп. Описаны существующие методики испытаний и средства определения срока службы светодиодного источника света. Экспериментально получены кривые нагрева и остывания светодиодной лампы в горячей точке. Представлен график изменения уровня освещенности черного ящика светодиодной лампой в зависимости от количества циклов ее включения и выключения.
Creative Commons
Научный журнал
Еще термины по предмету «Приборостроение и оптотехника»
Время спада импульса излучения полупроводникового излучателя
интервал времени, в течение которого сила излучения полупроводникового излучателя изменяется от 90 до 10 % своего максимального значения.
Пуппилограф
регистрирующий прибор для измерения зависимости диаметра зрачка от времени.
- Исследовательский проект
- Исследовательская проблема
- Исследовательская специальность
- Исследовательское задание
- Исследовательский прием
- Исследовательское поведение
- Исследовательский реактор
- Исследовательская версия
- Испытание
- Испытания
- Испытание на усталость, циклическое испытание
- Научно-исследовательская деятельность
- Научно-исследовательский центр
- Научно-исследовательские институты
- Научно-исследовательская организация
- Научно-исследовательский институт
- Исследовательская панель «Этвуд»
- Научно-исследовательские музеи
- Идивидуальная исследовательская интенция
- Научно-исследовательские фонды
Повышай знания с онлайн-тренажером от Автор24!
- Напиши термин
- Выбери определение из предложенных или загрузи свое
- Тренажер от Автор24 поможет тебе выучить термины с помощью удобных и приятных карточек
