Атомно-абсорбционный спектрометр
оптический спектрометр, предназначенный для измерений и регистрации спектрального коэффициента пропускания и (или) спектральной оптической плотности атомных паров.
модель дифракционной структуры фазовой голограммы.
Разработана аналитическая модель дифракции оптического излучения на фазово-неоднородных голографических поляризационных дифракционных структурах в фотополимерно-жидкокристаллических материалах. Численное моделирование, проведенное на основе разработанной модели для дифракционных структур с однородным амплитудным и квазиквадратичным фазовым профилем, показало, что неоднородность структуры приводит к изменению ее угловой селективности.
Представлена теоретическая модель последовательной записи наложенных голографических дифракционных структур пропускающего и отражающего типа в фотополимерных композиционных материалах с учетом фотоиндуцированного изменения оптического поглощения. На основе численного моделирования исследована временная динамика амплитуд пространственного профиля, дифракционной эффективности и угловой селективности записываемых наложенных фазовых дифракционных структур.
оптический спектрометр, предназначенный для измерений и регистрации спектрального коэффициента пропускания и (или) спектральной оптической плотности атомных паров.
необратимая тонкослойная регистрирующая среда, содержащая светочувствительные наночастицы галогенидов серебра в желатиновой матрице.
лампа, оптическое излучение в которой создает дуговой разряд.