Детекторный полупроводниковый диод
полупроводниковый диод, предназначенный для детектирования сигнала.
Ускоряющее напряжение электронного микроскопа
Предмет
Электроника, электротехника, радиотехника
👍 Проверено
Автор24
разность потенциалов, определяющая энергию электронов в осветительной системе электронного микроскопа.
Научные статьи на тему «Ускоряющее напряжение электронного микроскопа»
Электропроводность одностенных углеродных нанотрубок
Он заключается в указании угла между напряжением сворачивания нанотрубки и направлением, в котором у...
В углеродной нанотрубке три из четырех валентных электронов образуют гибридизованные орбитали, а один...
Когда энергетические уровни, которые заняты z-электронами, никак не отделены от вакантных уровней зоной...
запрещенных энергий, z-электроны свободно ускоряются внешним электрическим полем, то есть участвуют...
В некоторой степени данные проблемы решаются благодаря использованию, например, атомно-силового микроскопа
Статья от экспертов
Исследование углеродных нанотрубок
Исследованы углеродные нанотрубки методом растровой электронной микроскопии и Оже-электронной спектроскопии на микроскопе JEOL. Режимы измерений – ускоряющее напряжение 10 кВ, ток в режиме микроскопии 10-9 А, ток в режиме спектроскопии 10-6 А. Образец наносился на металлическую сетку. Данные спектроскопии свидетельствуют, что данный образец состоит из углерода (пик в области энергии 280 эВ). Другие интенсивные пики на спектре отсутствуют, т.е. никакие примеси данным методом не зафиксированы. Показано, что данный образец обладает высокой термостойкостью.
Creative Commons
Научный журнал
Экспериментальные исследования метода дефокусировки электронного пучка при измерениях геометрических параметров наноразмерных объектов в низковольтном режиме растрового электронного микроскопа
Выполнены измерения линейных размеров элемента нанорельефа с трапецеидальным профилем в растровом электронном микроскопе (РЭМ), работающем при ускоряющем напряжении 800 В, методом дефокусировки электронного пучка. Показано, что видеосигнал во вторичных электронах может быть представлен как кусочно-линейная функция с характерными точками излома. Установлено, что расстояния между экстремумами и точками начала возрастания сигнала линейно зависят от эффективного диаметра def, электронного пучка РЭМ. Экстраполяция этих прямых к def = 0 позволяет определить значения размеров верхнего и нижнего оснований упомянутого выше элемента нанорельефа и среднее значение проекции боковой стенки элемента.
Creative Commons
Научный журнал
Еще термины по предмету «Электроника, электротехника, радиотехника»
Синхронизировать
привести к синхронности.
Энергия импульса накачки излучателя лазера
энергия накачки излучателя лазера за один импульс.
- Нестабильность напряжения электронного микроскопа
- Электронная микроскопия
- Электронный микроскоп
- Растровый электронный микроскоп, сканирующий электронный микроскоп
- Электронная линза электронного микроскопа
- Электронная пушка электронного микроскопа
- Дифракционная электронная микроскопия
- Просвечивающий электронный микроскоп
- Растровая электронная микроскопия
- Зеркальный электронный микроскоп
- Колонна электронного микроскопа
- Отражательный электронный микроскоп
- Фотокамера электронного микроскопа
- Эмиссионный электронный микроскоп
- Отражательная электронная микроскопия, электронная микроскопия в отраженном светe
- Электронно-оптическое увеличение электронного микроскопа
- Вакуумная система электронного микроскопа
- Двойной конденсатор электронного микроскопа
- Конденсаторная линза электронного микроскопа
- Магнитная линза электронного микроскопа
Повышай знания с онлайн-тренажером от Автор24!
- Напиши термин
- Выбери определение из предложенных или загрузи свое
- Тренажер от Автор24 поможет тебе выучить термины с помощью удобных и приятных карточек
