Справочник от Автор24
Найди эксперта для помощи в учебе
Найти эксперта
+2

Растровый электронный микроскоп, сканирующий электронный микроскоп

Предмет Материаловедение
👍 Проверено Автор24

электронный микроскоп, в котором узкий электронный зонд сканирует площадь образца и изображение формируется с помощью вторичных и отраженных электронов, электронов, прошедших через образец, рентгеновского излучения и т.д..

Научные статьи на тему «Растровый электронный микроскоп, сканирующий электронный микроскоп»

Электронная сканирующая микроскопия в материаловедении

Сканирующая или растровая микроскопия....
Развертки лучей в колонне растрового микроскопа и электронно-лучевой трубки синхронны, это является причиной...
Устройство сканирующего электронного микроскопа Пример схемы сканирующего электронного микроскопа представлена...
Схема сканирующего электронного микроскопа....
Традиционно устанавливаемым на растровые микроскопы детектором является детектор вторичных электронов

Статья от экспертов

Нанометрология в технических исследованиях - основа дальнейшего развития науки

Научно-технический прогресс достиг сегодня такого уровня, что используемая при исследованиях аппаратура должна быть совершенной и сверхточной, а для изготовления ее деталей требуются измерительные приборы эталонной точности. Достижение предельных возможностей в нанометрии связано с использованием высокоразрешающих методов сканирующей зондовой микроскопии: растровой оптической, растровой электронной, сканирующей туннельной и атомно-силовой в сочетании с лазерной интерферометрией и фазометрией. На основе сканирующего зондового электронного микроскопа MIRA-3 LM проведены исследования микростуктур стали 65Г, результаты которых позволяют сделать научные выводы с большей эффективностью, чем прежде.

Научный журнал

Характеризация углеродных покрытий, полученных импульсным вакуумно-дуговым методом

Приведены экспериментальные результаты исследований свойств углеродных покрытий, полученных импульсным вакуумно-дуговым распылением графитового катода. Использованы методы просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения, растровой электронной микроскопии и сканирующей зондовой микроскопии. Установлены корреляционные зависимости между спектрами потерь энергии электронов, энергией плазмона, величиной внутренних напряжений и морфологией поверхности покрытий, полученных в различных условиях.

Научный журнал

Еще термины по предмету «Материаловедение»

Дифракция

рассеяние лучей или элементарных частиц кристаллами или молекулами жидкостей и газов.

🌟 Рекомендуем тебе

Полярный диэлектрик

диэлектрик, содержащий электрические диполи, способные к переориентации во внешнем электрическом поле.

🌟 Рекомендуем тебе
Смотреть больше терминов

Повышай знания с онлайн-тренажером от Автор24!

  1. Напиши термин
  2. Выбери определение из предложенных или загрузи свое
  3. Тренажер от Автор24 поможет тебе выучить термины с помощью удобных и приятных карточек
Все самое важное и интересное в Telegram

Все сервисы Справочника в твоем телефоне! Просто напиши Боту, что ты ищешь и он быстро найдет нужную статью, лекцию или пособие для тебя!

Перейти в Telegram Bot