Построение Эвальда

Предмет Материаловедение

👍 Проверено Автор24

графическое представление условия дифракции Лауэ, заключающееся в проведении сферы Эвальда в обратном пространстве.

Научные статьи на тему «Построение Эвальда»

Основной психофизический закон Вебера-Фехнера

Густав Теодор Фехнер (1801–1887) позже использовал выводы Вебера для построения психофизической шкалы...
Использование термина «закон Вебера-Фехнера» было раскритиковано Эвальдом Герингом как неправильное употребление

Статья от экспертов

Расшифровка дифракционных картин сложных кристаллических структур с применением 3D-модели обратного пространства кристаллических решеток

При дифракционных исследованиях многофазных сплавов возникает необходимость расшифровки картин дифракции, содержащих множество фазовых рефлексов, сформированных кристаллографически эквивалентно ориентированными в матрице выделениями фаз. Подобные задачи позволяет решать построение в трехмерном пространстве модели узлов обратной решетки матрицы и фазы с учетом всех кристаллографически эквивалентных ориентаций фазы в матрице. Центральное сечение такой модели соответствует электронограмме, получаемой в просвечивающем электронном микроскопе. При соответствующих поворотах модели в обратном пространстве можно получить любую ось зоны в сечении. Возможность управления отображением в модели любых кристаллографически эквивалентных вариантов ориентаций фазы в матрице позволяет разделить рефлексы различных фаз и их кристаллографически эквивалентные ориентации на любых осях зон

Creative Commons

Научный журнал

АНАЛИЗ ДИФРАКЦИИ БЕЛОГО РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА КРИСТАЛЛАХ МЕТОДОМ ЭВАЛЬДА ПРИ ОПРЕДЕЛЕНИИ ЛИНЕЙНЫХ ПАРАМЕТРОВ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЁТКИ

Показана возможность применения коротковолновой границы белого рентгеновского излучения для экспериментального определения линейных параметров кристаллической решётки. Рассмотрены два варианта рентгеновской съёмки, позволяющей зафиксировать дифракционный эффект, лежащий в основе определения линейных параметров: съёмка при изменении напряжения на рентгеновской трубке и постоянном угле дифракции, а также съёмка при изменении угла дифракции и постоянном напряжении на трубке. Для обоих вариантов съёмки получены расчётные формулы, позволяющие экспериментально определить линейные параметры решётки. С применением рассмотренных типов рентгеновской съёмки и полученных расчётных формул определены межплоскостные расстояния в кристаллах некоторых простых веществ.

Creative Commons

Научный журнал

Еще термины по предмету «Материаловедение»

Индексы Лауэ

индексы отражающей плоскости n -порядка.

Полиэтилен (полиэтен); ПЭ

полимер этилена [этена].

Полиэфирная пластмасса

пластмасса с использованием полимеров, в которых повторяющиеся структурные звенья в цепях относятся к эфирному типу и также присутствуют другие типы повторяющихся структурных звеньев, причем сложноэфирный компонент или компоненты представлены в наибольшем количестве.

Смотреть больше терминов

Повышай знания с онлайн-тренажером от Автор24!

Напиши термин
Выбери определение из предложенных или загрузи свое
Тренажер от Автор24 поможет тебе выучить термины с помощью удобных и приятных карточек

Попробовать тренажер