Время задержки при включении импульса излучения полупроводникового излучателя
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
испытания, проводимые для определения значения характеристик объекта с заданными значениями показателей точности и (или) достоверности.
Виды испытаний
Классификация испытаний продукции может осуществляться на основе следующих критериев:...
сущность испытания: исследовательские, определительные, сравнительные, контрольные испытания;
уровень...
свойств объекта испытаний....
характеристик продукции с заданными значениями показателей точности и достоверности, осуществляются определительные...
испытания.
В настоящей статье устанавливается связь при планировании контрольных и определительных испытаний на надежность. Установленные требования по достоверности контрольных испытаний пересчитываются в соответствующие требования по достоверности определительных испытаний на надежность
Организация проведения испытаний
Основой для организации проведения испытаний является программа испытаний...
;
согласуют утверждение протокола испытаний и др....
Разработка программы испытаний предполагает формулировку цели....
сравнительным, определительным) и целесообразность его проведения....
Технология проведения испытаний
Технология проведения испытаний означает совокупность приемов, способов
Существуют два основных вида испытаний на надёжность. Один из них определительные испытания, которым подвергаются крупносерийные изделия. Задача определительных испытаний оценка показателей надёжности. Другой вид контрольные испытания, в ходе которых осуществляется проверка соответствия техническим условиям показателя надёжности системы. Исследуется второй вид испытаний. Цель исследования выяснить, соответствуют ли характеристики надёжности изделия (изготовленной радиоэлектронной системы) заданным требованиям, предусмотренным техническими условиями на изготовление изделия. Для решения задачи используется математический аппарат статистической теории гипотез. Рассматриваются две гипотезы: гипотеза среднее время наработки на отказ задаётся требованиями технических условий (изделие хорошее); гипотеза среднее время наработки на отказ альтернатива (изделие плохое). Отмечен недостаток процедуры проверки гипотез качество решения определяется после проведения испытаний, т. е. такая процедура...
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
необратимая тонкослойная регистрирующая среда, содержащая светочувствительные наночастицы галогенидов серебра в желатиновой матрице.
геометрическое место точек поверхности, в которых освещенность одинакова.
Наведи камеру телефона на QR-код — бот Автор24 откроется на вашем телефоне