Глубина обратной связи
степень относительных изменений параметров усилительного тракта, вызываемых введением в него обратной связи.
Нестабильность напряжения электронного микроскопа
Предмет
Электроника, электротехника, радиотехника
👍 Проверено
Автор24
самопроизвольное изменение значения ускоряющего напряжения электронного микроскопа во времени.
Научные статьи на тему «Нестабильность напряжения электронного микроскопа»
Особенности переориентации кристаллической решетки и механизм локализации деформации в высокоазотистых аустенитных сталях в условиях их фазовой нестабильности в полях неоднородных напряжений
Методом просвечивающей электронной микроскопии изучены закономерности переориентации кристаллической решетки в полосах локализации деформации, формирующихся при холодной прокатке высокоазотистых аустенитных сталей. Показано, что в указанных материалах фазовая нестабильность аустенита в полях высоких локальных напряжений полос локализации деформации приводит к реализации нового механизма деформации и переориентации кристаллической решетки объемной деформации Бейна путем прямого и обратного (по альтернативной системе) γ → α → γ мартенситного превращения. С позиций физической мезомеханики обсуждены природа и механизмы указанного превращения.
Creative Commons
Научный журнал
Особенности применения твердых электродов для электролиза криолитоглиноземных расплавов
Цель исследование процессов электроосаждения бора, титана и алюминия на углеграфитовых катодах; определение возможных путей преодоления существующих ограничений применения твердых катодов для электролиза криолитоглиноземных расплавов. Рентгенофазовый анализ проводился на автоматизированном рентгеновском дифрактометрическом оборудовании фирмы Shimadzu XRD-6000 (излучение CuKα, графитовый монохроматор). Микроструктура поверхности образцов исследовалась на растровом электронном микроскопе JEOL JSM 7001F (Япония). Рентгеноспектральный микроанализ, энергодисперсионный микроанализ электродвижущей силы (SEM-EDS анализ) и ЭДС-картирование (EDS-mapping) выполнены на энергодисперсионном спектрометре Oxford Instruments (Великобритания). По результатам реализации электрохимического синтеза диборида титана TiB2 при температуре ~975°С, плотности тока 0,82 А/см2 с последующим осаждением алюминия на углеродном катоде и исследованием поверхности методами рентгенофлуоресцентного анализа, а также элек...
Creative Commons
Научный журнал
Еще термины по предмету «Электроника, электротехника, радиотехника»
Детекторный полупроводниковый диод
полупроводниковый диод, предназначенный для детектирования сигнала.
Связь графа схемы
ветвь графа, не принадлежащая дереву графа.
- Нестабильность тока электронного микроскопа
- Ускоряющее напряжение электронного микроскопа
- Электронная микроскопия
- Электронный микроскоп
- Растровый электронный микроскоп, сканирующий электронный микроскоп
- Электронная линза электронного микроскопа
- Электронная пушка электронного микроскопа
- Дифракционная электронная микроскопия
- Просвечивающий электронный микроскоп
- Растровая электронная микроскопия
- Зеркальный электронный микроскоп
- Колонна электронного микроскопа
- Отражательный электронный микроскоп
- Фотокамера электронного микроскопа
- Эмиссионный электронный микроскоп
- Отражательная электронная микроскопия, электронная микроскопия в отраженном светe
- Электронно-оптическое увеличение электронного микроскопа
- Нестабильность по напряжению интегральной микросхемы
- Вакуумная система электронного микроскопа
- Двойной конденсатор электронного микроскопа
Повышай знания с онлайн-тренажером от Автор24!
- Напиши термин
- Выбери определение из предложенных или загрузи свое
- Тренажер от Автор24 поможет тебе выучить термины с помощью удобных и приятных карточек
