Мощность накачки излучателя лазера
мощность, подводимая к излучателю лазера.
самопроизвольное изменение значения ускоряющего напряжения электронного микроскопа во времени.
Методом просвечивающей электронной микроскопии изучены закономерности переориентации кристаллической решетки в полосах локализации деформации, формирующихся при холодной прокатке высокоазотистых аустенитных сталей. Показано, что в указанных материалах фазовая нестабильность аустенита в полях высоких локальных напряжений полос локализации деформации приводит к реализации нового механизма деформации и переориентации кристаллической решетки объемной деформации Бейна путем прямого и обратного (по альтернативной системе) γ → α → γ мартенситного превращения. С позиций физической мезомеханики обсуждены природа и механизмы указанного превращения.
Цель исследование процессов электроосаждения бора, титана и алюминия на углеграфитовых катодах; определение возможных путей преодоления существующих ограничений применения твердых катодов для электролиза криолитоглиноземных расплавов. Рентгенофазовый анализ проводился на автоматизированном рентгеновском дифрактометрическом оборудовании фирмы Shimadzu XRD-6000 (излучение CuKα, графитовый монохроматор). Микроструктура поверхности образцов исследовалась на растровом электронном микроскопе JEOL JSM 7001F (Япония). Рентгеноспектральный микроанализ, энергодисперсионный микроанализ электродвижущей силы (SEM-EDS анализ) и ЭДС-картирование (EDS-mapping) выполнены на энергодисперсионном спектрометре Oxford Instruments (Великобритания). По результатам реализации электрохимического синтеза диборида титана TiB2 при температуре ~975°С, плотности тока 0,82 А/см2 с последующим осаждением алюминия на углеродном катоде и исследованием поверхности методами рентгенофлуоресцентного анализа, а также элек...
мощность, подводимая к излучателю лазера.
печатный проводник, вдоль которого распространяется электромагнитная энергия.
привести к синхронности.
Наведи камеру телефона на QR-код — бот Автор24 откроется на вашем телефоне