Индексы Лауэ
индексы отражающей плоскости n -порядка.
диапазон линейных размеров приблизительно от 1 до 100 нм.; верхнюю границу этого диапазона принято считать приблизительной, так как в основном уникальные свойства нанообъектов за ней не проявляются; нижнее предельное значение в этом определении (приблизительно 1 нм) введено для того, чтобы исключить из рассмотрения в качестве нанообъектов или элементов наноструктур отдельные атомы или небольшие группы атомов.
Получены значения индекса фрактальности отдельных участков искусственных кристаллов поваренной соли. Обнаружены эффекты анизотропии фрактальных характеристик. Определены значения твердости и модуля упругости и сопоставлены с результатами других исследований. Рассмотрен вопрос о корреляции между фрактальными параметрами и механическими характеристиками.
Приведены результаты обработки и анализа экспериментальных данных по сканированию рельефа поверхности и индентированию кристаллов соляных пород в микрои нанодиапазоне, полученных на зондовом сканирующем микроскопе Dimension Icon на основе построенных математических моделей. Описаны основные методы исследования фрактальных свойств.Для оценки фрактальных свойств изучаемыхкристаллов выбран метод минимального покрытия, показана его эффективность по сравнению с другими методами. Приведен алгоритм метода минимального покрытия и описано его обобщение на случай двумерных рядов.Вычислены значения индекса фрактальностии мультифрактальных параметров для поверхностей кристаллов сильвина и галита в нанодиапазоне на основе метода минимального покрытия в одномерном и двумерном варианте. Изучены эффекты анизотропии фрактальных свойств. Сопоставлены фрактальные свойства кристаллов на различных масштабных уровнях. Приведены оценки твердости и модуля упругости разных участков исследуемых кристаллов и ...
индексы отражающей плоскости n -порядка.
химическоe соединениe элемента с кислородом.
пластмасса с использованием полимеров, в которых повторяющиеся структурные звенья в цепях относятся к эфирному типу и также присутствуют другие типы повторяющихся структурных звеньев, причем сложноэфирный компонент или компоненты представлены в наибольшем количестве.