Время задержки при включении импульса излучения полупроводникового излучателя
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
отношение площади действующей части входного зрачка оптической системы для заданного угла поля со к площади входного зрачка оптической системы для центра углового поля.
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
прибор для измерения освещенности.
составляющая шума прибора СВЧ, вызванная тепловым движением носителей заряда.