изображение, сформированное в растровом электронном микроскопе с использованием отраженных от объекта электронов.
В настоящее время наиболее распространены три способа изображения распределения электронной плотности...
Указательный способ изображения распределения электронной плотности
Сущность этого метода заключается...
Гибридный способ изображения распределения электронной плотности
Этот способ изображения распределения...
Многоструктурный способ изображения распределения электронной плотности
Многоструктурный способ изображения...
системах и ароматических молекулах заключается в применении пунктирных линий для отражения выравненности
В статье на основе анализа закономерностей взаимодействия направленного оптического излучения с оптико-электронными средствами разработаны модели формирования областей локализации «зон блеска», излучение которых оказывает определяющее влияние на формирование отраженного сигнала. Обосновано, что наличие аберраций оптической системы оптико-электронных средств приводит к возникновению в пределах апертуры оптикоэлектронных средств нескольких «зон блеска» – центральной и сопряженных периферийных. Положение центральной «зоны блеска» определятся положением изображения излучающей апертуры оптического локатора, а положение периферийных – аберрацией объектива оптикоэлектронных средств и углового положения изображения излучающей апертуры локатора относительно оптической оси оптико-электронных средств. Установлено, что для подавления отраженных сигналов от периферийных «блестящих зон» достаточно использовать по одному поглощающему экрану для каждой пары с размерами сопоставимыми с размерами пер...
Рассеянные электроны задерживаются диафрагмами. От диаметра диафрагм зависит контраст изображения....
При исследовании сильнорассеивающих объектов более информативными являются темнопольные изображения....
возникновения на экране трубки изображения, которое представляет собой распределение интенсивности одного...
:
световой сигнал,
вторичные электроны,
рентгеновское характеристическое излучение,
отраженные электроны...
объект, при установленной stem-приставке,
потери электрического тока на изучаемом образце,
дифракции отраженных
Для выявления несовершенства технологических процессов при выплавке рельсовой стали и последующем производстве рельсов в современных условиях недостаточно традиционных методов исследования. Цель данной статьи продолжение уже начатых ранее работ по разработке новых методик и возможностей применения комбинации традиционных, стандартизированных методик анализа металлов и современных методов анализа материалов, таких как сканирующей электронной микроскопии (далее СЭМ), рентгеновского микроанализа, измерения амплитуды шумов Баркгаузена, остаточных напряжений для поиска дефектов, анализа структуры материала с целью улучшения технологии производства. Для проведения анализа использовался сканирующий электронный микроскоп JEOL JIB-Z4500, оснащенный приставкой для энергодиспер-сионного анализа, установка для определения остаточных напряжений и цифровой анализатор Rollscan 300 для измерения амплитуды шумов Баркгаузена, а также оптический микроскоп МЕТ-2, отрезные и шлифовальные станки для подг...
преобразовательное устройство, предназначенное для согласования работы энергосистем с различными частотами, контролируемой передачи электроэнергии, повышения надежности работы энергосистем, а также для обеспечения высокого качества передаваемой электроэнергии.
радиочастоты 300-3000 ггц.
электрод электронно-лучевого прибора, служащий для создания потенциального барьера для ионов.
Возможность создать свои термины в разработке
Еще чуть-чуть и ты сможешь писать определения на платформе Автор24. Укажи почту и мы пришлем уведомление с обновлением ☺️
Включи камеру на своем телефоне и наведи на Qr-код.
Кампус Хаб бот откроется на устройстве
