Время задержки при включении импульса излучения полупроводникового излучателя
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
проводящий элемент электровакуумного прибора, эмитирующий или собирающий электроны или ионы или управляющий их движением при помощи электрического поля.
Разработан технологический процесс откачки электровакуумных приборов с ионно-плазменной очисткой электродов. Исследованы режимы и критерии очистки электродов в тлеющем разряде постоянного тока.
Рассмотрены конструкции и технология изготовления катодно-сеточных узлов для электровакуумных приборов СВЧ. Показано, что электроискровой способ изготовления сеток, специальным электродом за один технологический прием, позволяет добиться оптимального «совмещения» перемычек теневой и управляющей сеток в узле. Приспособление, описанное в статье, позволяет выставить с точностью ±0,01 катод относительно сетки. Описан метод оценки эмиссионной способности катода в составе узла.
интервал времени между 10 % значения импульса тока и 10 % значения импульса силы излучения полупроводникового излучателя, измеренный по фронту импульсов.
прибор для измерения освещенности.
регистрирующий прибор для измерения зависимости диаметра зрачка от времени.
Наведи камеру телефона на QR-код — бот Автор24 откроется на вашем телефоне